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标准号标准名称替代标准实施日期状态
SJ/T 2215.11-1982半导体光耦合器脉冲上升、下降、延迟、贮存时间的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2215.10-1982半导体光耦合器直流电流传输比的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2214.9-1982半导体光敏二、三极管脉冲上升、下降时间的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2214.8-1982半导体光敏三极管暗电流的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2214.7-1982半导体光敏三极管饱和压降的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2214.6-1982半导体光敏三极管集电极-发射极反向击穿电压的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2214.5-1982半导体光敏二极管结电容的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2214.4-1982半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2214.3-1982半导体光敏二极管暗电流的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2214.2-1982半导体光敏二极管正向压降的测试方法1983-07-01被代替
SJ/T 2214.1-1982半导体光敏管测试方法总则1983-07-01被代替
SJ/T 2214.10-1982半导体光敏二、三极管光电流的测试方法1983-07-01被代替
SJ 2220-1982半导体达林顿型光耦合器1983-07-01已废止
SJ 2219-1982半导体光敏三极管型光耦合器SJ 2218-19821983-07-01已废止
SJ 2218-1982半导体光敏二极管型光耦合器1983-07-01被代替
SJ 2213-1982半导体光敏管、光耦合器总技术条件1983-07-01已废止
SJ 2207-1982预调线绕电位器总技术条件1983-07-01已废止
SJ 2206-1982K-21系列反射速调管1983-07-01已废止
GB/T 3290-1982信息交换用磁带盘的尺寸和性能1983-08-01现行
GB/T 3237-1982信息处理交换用穿孔纸带的盘心尺寸1983-08-01废止
GB/T 3236-1982信息处理交换用七位和八位编码字符集在穿孔纸卡片上的表示方法1983-08-01废止
SJ/T 2197-1982地面用标准硅太阳电池的标定1983-07-01已废止
SJ/T 2196-1982地面用太阳电池电性能测试方法1983-07-01已废止
SJ 2199-1982电声器件名词术语1983-07-01现行
SJ 2195-1982CDL-100/L型C型铁芯滤波阻流圈(电感输入式)1983-07-01现行
SJ 2194-1982CDL-100/C型C型铁芯滤波阻流圈(电容输入式)1983-07-01现行
SJ 2193-1982整流滤波阻流圈电气参数系列1983-07-01现行
SJ 746-1973游动螺母1983-07-01被代替
SJ 745-1973铆装方螺母1983-07-01被代替
SJ 744-1973铆装圆螺母1983-07-01被代替


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