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标准号标准名称替代标准实施日期状态
SJ 2369-19833CD253型、3CD254型、3CD453型PNP硅高压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2368-19833CD251型、3CD252型、3CD451型PNP硅高压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2367-19833CD249型、3CD250型、3CD449型PNP硅高压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2366-19833CD447型PNP硅高压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2365-19833CD167型、3CD367型PNP硅低压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2364-19833CD164型、3CD364型PNP硅低压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2363-19833CD162型、3CD362型PNP硅低压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2362-19833CD159型、3CD160型PNP硅低压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2361-19833CD157型、3CD158型、3CD357型PNP硅低压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2360-19833CD155型、3CD156型、3CD355型PNP硅低压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2359-19833CD153型、3CD154型、3CD353型PNP硅低压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2358-19833CD151型、3CD152型、3CD351型PNP硅低压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2357-19833CD149型、3CD150型、3CD349型PNP硅低压低频大功率三极管SJ 2356-19831984-03-01已废止
SJ 2356-19833CD347型PNP硅低压低频大功率三极管1984-03-01被代替
SJ/T 2354.9-1983PIN、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.8-1983PIN、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.7-1983PIN、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.6-1983PIN、雪崩光电二极管响应度的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.5-1983PIN、雪崩光电二极管电容的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.4-1983PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.3-1983PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.2-1983PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.14-1983雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.13-1983雪崩光电二极管倍增因子的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.12-1983雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.1-1983PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则1984-07-01被代替
SJ/T 2354.11-1983PIN、雪崩光电二极管列阵盲区宽度的测试方法1984-07-01被代替
SJ/T 2354.10-1983PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法1984-07-01被代替
SJ 2355.7-1983半导体发光器件测试方法 发光峰值波长和光谱半宽度的测试方法SJ 2355.1-19831984-07-01被代替
SJ 2355.6-1983半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法SJ 2355.1-19831984-07-01被代替


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