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《半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法》等29项国家标准及2项国家标准修改单报批公示
发布日期:2019-05-21公示结束日期:2019-06-19

 根据工信部下达的标准制修订计划,现对电子行业《半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法》等29项国家标准及2项国家标准修改单报批公示,公示截止日期为2019年06月19日。如有不同意见,点击标准名称进行在线提意见。


联系人:崔文浩

联系电话:010-64102958


公示清单(公示期内可点击项目名进行意见反馈)
计划号标准名称主要内容报批稿
20100031-T-339半导体发光二极管光辐射安全 第1部分:要求与等级分类方法

本标准规定了半导体发光二极管的光辐射安全要求与危险等级分类方法。本标准适用于光辐射波长为近紫外和可见光区域(300nm~780nm)的单芯片或多芯片LED。

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20100032-T-339半导体发光二极管光辐射安全 第2部分:测试方法

本标准规定了半导体发光二极管的光辐射安全的测试方法,适用于光辐射波长为近紫外和可见光区域(300nm~780nm)的单芯片或多芯片LED。

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20151774-T-339发光二极管模块热特性瞬态测试方法

本标准规定了由单个、多个发光二极管(简称LED)芯片或器件组成的LED模块热特性瞬态测试方法。本标准适用于单个、多个LED芯片或器件封装而成的模块,以及LED芯片或器件和其他微电子器件构成的模块热特性测量。

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20061262-T-339半导体器件 集成电路 第2-8部分:数字集成电路 集成电路静态读写存储器 空白详细规范

本标准规定了静态读写存储器详细规范应给出的功能说明、工作条件、静态参数等要求。

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20063602-T-339半导体器件 集成电路 第2-6部分:数字集成电路 微处理器空白详细规范

规定了微处理器详细规范应给出的内部结构、硬件描述、存储器结构、功能说明等要求。

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20120140-T-339CPU基准程序测试方法

本标准规定了采用基准程序进行CPU性能测试的基本方法和要求,适用于通用CPU。本标准只规定CPU基准测试的一般原则,针对具体CPU产品应制定相应的测试细则,适用于第三方机构对通用CPU进行性能测试与评估,也适用于CPU产品的采购、整机设计。

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20120141-T-339DSP基准程序测试方法

本标准规定了采用基准程序进行DSP性能测试的基本方法和要求,仅规定用于测试DSP数字信号处理能力的核心算法基准程序,针对具体DSP产品应制定相应的测试细则,适用于第三方机构对DSP进行性能测试与评估,也适用于DSP产品的采购、整机设计。

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20120142-T-339处理器参数指标体系

本标准规定了处理器性能评估的参数指标,适用于第三方机构对处理器进行性能测试与评估,也适用于处理器相关产品的采购、整机设计。

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20120143-T-339处理器电参数测试方法

本标准规定了半导体集成电路处理器电路电参数测试方法,适用于处理器电特性测试。

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20120144-T-339处理器评测流程规范

本标准确定每个环节(申请、文档审查、标志检查、性能参数测试、电参数测试、综合性能测试、报告出具)的要素,适用于CPU、DSP等处理器技术评测。其他类似处理器芯片的评测可参照本规范执行。

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20141825-T-339集成电路(IC)卡封装框架

本标准规定了集成电路(IC)卡封装框架的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和贮存等,适用于集成电路卡封装测试用的集成电路(IC)卡封装框架,包括接触式IC卡封装框架和非接触式IC卡封装框架。

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20154238-T-339半导体集成电路外形尺寸

本标准规定了半导体集成电路的封装形式及外形尺寸,适用于半导体集成电路的封装设计和成品尺寸检验。

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20062498-T-339仪表着陆系统(ILS)?第2部分:下滑信标接收机性能要求和测试方法

本标准主要内容包括仪表着陆系统下滑信标接收机(含天线)的“工作频率与波道”、“下滑道中心准确度”、“偏离输出特性”“接收机灵敏度”、“选择性”、“告警”、“抗交叉调制干扰”、“接收两个载波情况下的接收机性能”、“假信号响应”、“天线特性”等性能要求及其测试方法。

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20062499-T-339仪表着陆系统(ILS) 第4部分:航向信标接收机性能要求和测试方法

本标准主要内容包括仪表着陆系统航向信标接收机(含天线)的“工作频率与波道”、“航道中心准确度”、“偏离输出特性”、“接收机灵敏度”、“选择性”、“告警”、“抗邻道干扰”、“抗交叉调制干扰”、“抗互调干扰”、“接收两个载波情况下的接收机性能”、“假信号响应”、“语音/识别输出”、“天线特性”等性能要求及其测试方法。

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20064198-T-339天气雷达通用规范

本标准规定了地面天气雷达的分类、技术要求、试验方法、质量评定程序及包装、运输和贮存等。本标准适用于地面天气雷达的设计、制造和验收。

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20121225-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分:试验23c:连接器和附件的屏蔽效果-线注入法

本标准规定了测量连接器或装有附件并端接电缆连接器屏蔽效果的标准试验方法。本标准适用于测量装有三同轴接触件、带双绞屏蔽电缆、用于数据总线系统的连接器的屏蔽效果。

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20121226-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分:屏蔽和滤波试验 试验23d:时域内传输线的反射

本标准规定了两种试验方法,通过测量传输线中连接器在时域内的反射,来评定连接器的性能。

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20121227-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分:屏蔽和滤波试验 试验23g:连接器的有效转移阻抗

本标准规定了最高频率在1 GHZ屏蔽的非圆形多芯电短路连接器,采用网络分析仪测量有效(表面)转移阻抗ZTE(用Ω表示)的试验方法,用以评定屏蔽效果。

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20121228-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比

本标准明确了本试验方法的范围和目的,对于必要的术语给出了定义。

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20121229-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减

本标准适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本标准规定了测量样品对通过其中信号的上升时间所产生影响的方法。

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20121230-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延

本标准适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本标准规定了测量数字信号从一个规定地点传送至第二个规定地点所需时间的方法。

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20121231-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗

本标准适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本标准规定了用于测量作为频率函数的回波损耗的频域法和时域法。

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20121232-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动

本标准适用于电连接器、电缆组件、或IEC TC48范围内的互连系统。标准规定了测量时域内眼图响应和抖动的方法。

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20121233-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)

本标准适用于互连组件,如IEC TC 48范围内的电连接器和电缆组件。标准规定了在时域和频域内测量阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR)的试验方法。

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20121234-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗)

本标准适用于电连接器、插座、电缆组件或互连系统。本标准叙述了测量作为频率函数的衰减/插入损耗的频域法和时域法。

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20121235-T-339电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰

本标准规定的试验方法是用于评定安装在其安装系统内紧靠着的连接器之间的近端外来串扰(ANEXT)和远端外来串扰(AFEXT)。组合式连接器和多端口面板连接器均可采用本方法进行试验。本方法提供了试验任何两端口之间外来(外源的)串扰的方式,以及评定来自所有其他端口的全部外来串扰。

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20130122-T-339便携式电子产品用振动电机通用规范

本标准规定了便携式电子产品用振动电机的型号、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、质量保证期、运输、储存。标准适用于便携式电子产品用微型振动电机。

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20130123-T-339减速永磁式步进电动机通用规范

本标准规定了BYJ减速永磁式步进电动机的分类与命名、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存。标准适用于BYJ减速永磁式步进电动机。

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20130124-T-339精密外转子轴流风机通用规范

本标准规定了家用和类似用途及工业用,风叶外径不大于1200mm,驱动电机功率不超过1000W的外转子轴流通风机的技术要求、试验方法、检测规则、保证期、标志和包装。

本标准适用于制冷、暖通、通风系统设备中使用的外转子轴流通风机。风叶直径大于1200 mm的外转子轴流通风机亦可参照使用本标准。


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国标修改单GB/T 26683-2017《地面数字电视接收器通用规范》第1号修改单
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国标修改单GB/T 26686-2017《地面数字电视接收机通用规范》第1号修改单
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