计划号 | 标准名称 | 主要内容 | 报批稿 |
SJ/T 11699-2017 | IP核可测性设计指南 | |  |
SJ/T 11700-2017 | IP核质量信息描述方法 | |  |
SJ/T 11701-2017 | 通用NAND型快闪存储器接口 | |  |
SJ/T 11702-2017 | 半导体集成电路 串行外设接口测试方法 | |  |
SJ/T 11703-2017 | 数字微电子器件封装的串扰特性测试方法 | |  |
SJ/T 11704-2017 | 微电子封装的数字信号传输特性测试方法 | |  |
SJ/T 11705-2017 | 微电子器件封装的地和电源阻抗测试方法 | |  |
SJ/T 2406-2017 | 微波电路型号命名方法 | |  |
SJ/T 11706-2017 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 | |  |
SJ/T 10805-2017 | 半导体集成电路 电压比较器测试方法 | |  |
SJ/T 11707-2017 | 硅通孔几何测量术语 | |  |
SJ/T 11708-2017 | 功率电机驱动器测试方法 | |  |