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《掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃》等77项电子行业标准报批公示
发布日期:2015-01-13公示结束日期:2015-02-12

    根据行业标准制修订计划,相关标准化技术组织已完成《掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃》等77项行业标准的制修订工作。在以上标准批准发布之前,为进一步听取社会各界意见,现予以公示,截止日期2015年2月12日。如有不同意见,点击标准名称进行在线提意见。


联系人:崔文浩

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公示清单(公示期内可点击项目名进行意见反馈)
计划号标准名称主要内容报批稿
SJ/T 11535-2014磁控管调制器通用规范

本标准规定了磁控管调制器(以下简称调制器)的通用技术要求、测试方法、质量评定程序、包装、运输和贮存方法等。本标准适用于调制器的设计、制造和验收。

SJ/T 2938-2014电视图像信号发生器通用技术要求和测试方法

本标准规定了电视图像信号发生器共有的性能特性和测试方法。本标准适用于PAL/D制的电视图像信号发生器,也适用于非隔行扫描方式的电视图像信号发生器。

SJ/T 11534-2014微波电路用覆铜箔聚四氟乙烯玻纤布层压板

本标准对微波电路用覆铜箔聚四氟乙烯玻纤布层压板的分类外观、尺寸及公差(长度 宽度及公差,标称厚度及公差,弓曲和扭曲、垂直度)、各项性能要求(10GHz介电常数和损耗因数、体积电阻率、表面电阻率、击穿电压、剥离强度、弯曲强度、热应力、燃烧性、0℃~100℃热膨胀系数、热导率、吸水率、密度)、检验方法、检验规则、包装、标志、贮存及运输要求作出了具体规定。

SJ/T 11533-201424针点阵式打印头通用规范

本标准规定了24针点阵式打印头的技术要求,试验方法和检验规则,标志、包装、运输、贮存。本标准规定了24针打印头的一些重要指标:1针寿命;2最大出针频率;3打印出针距离;4针击力度;5针飞行时间。

SJ/T 11532.3-2014危险化学品气瓶标识用电子标签通用技术要求 第3部分:读写器特殊要求

本标准规定了危险化学品气瓶电子标签读写器的环境适应性、防爆、防腐蚀性和数据通信加密认证等的特殊要求。本标准适用于危险化学品气瓶标识用电子标签读写器的设计和应用。

SJ/T 11532.2-2014危险化学品气瓶标识用电子标签通用技术要求 第2部分:应用技术规范

本标准规定了用于危险化学品气瓶标识的电子标签(以下简称标签)的性能、封装、固接要求和标签内存储数据的格式等内容。本标准适用于危险化学品气瓶标识用电子标签的设计、封装和应用。

SJ/T 11532.1-2014危险化学品气瓶标识用电子标签通用技术要求 第1部分:气瓶电子标识代码

本标准规定了采用电子标签标识的危险化学品气瓶代码的编码对象、代码的结构和表示形式。本标准适用于对气瓶使用登记和气瓶充装、检验、配送等的数据处理。

SJ/T 11531-2014电子标签读写设备无线技术指标和测试方法

本标准规定了13.56MHz、800/900MHz和2.45GHz频段电子标签读写设备的无线技术指标与测试方法。本标准适用于电子标签读写设备的研发、生产及测试。

SJ/T 11530-2014信息技术 开关型电源适配器通用规范

本标准规定了开关型电源适配器(简称电源适配器)的术语和定义、要求、测验方法、质量评定程序、标志、包装、运输、贮存等。本标准适用于信息技术设备用交流-直流输出的开关型电源适配器,如:计算机及外围设备、电子书、数字照(摄)相机等设备用开关型电源适配器,其他电源适配器也可参照本标准。

SJ/T 11529-2014服装制造生产线射频识别系统通用规范

本标准规定了服装制造生产线射频识别系统的术语和定义、技术要求、测试方法、质量评定程序、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于服装制造生产线射频识别系统的设计、使用和测试。

SJ/T 11528-2014信息技术 移动存储 存储卡通用规范

本标准规定了存储卡的基本术语、要求、试验方法、质量评定程序、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于存储卡的生产和检验。

SJ/T 11527-2014磁盘阵列通用规范

本标准规定了磁盘阵列的要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输和存贮。本标准适用于采用硬磁盘驱动器或固态硬盘驱动器(下简称盘)的盘阵列,采用其他存储媒体的盘阵列也可参照使用。

SJ/T 11526-2014信息技术 SCSI基于对象的存储设备命令

该行业标准基于OSD-2标准,定义了基于对象的存储设备的控制操作的命令集。定义了SCSI OSD模型,包括OSD体系结构的定义、存储的数据对象类型、对象属性以及OSD安全方法等。定义了用于OSD组件之间进行通信的命令的公共格式和一些公共参数。详细定义了用于OSD设备的所有命令和所有属性页。

SJ/T 11310.5-2014信息设备资源共享协同服务 第5部分:设备类型

本标准规定了符合SJ/T 11310-2005形态的设备类型标识符要求,功能性设备类型标识符要求及其接口要求。本标准适用于参与信息设备资源共享协同服务(IGRS)服务的各种设备。

SJ/T 11310.3-2014信息设备资源共享协同服务 第3部分:基础应用

本标准定义了在应用框架基础上所实现的一些基本应用需求和设计准则,同时还规定了由现有应用框架定义的与IGRS基础应用相关的必选和可选的交互流程、交互接口、软件和硬件接口以及软件框架。

本标准适用于计算机、家用电器和通信设备等在一定范围内通过有线或无线的方式实现媒体数据流的资源共享和协同服务。

SJ/T 11310.2-2014信息设备资源共享协同服务 第2部分:应用框架

本标准规定了设备间在资源共享协同服务的基础协议下实现媒体数据和文件数据流数据资源共享和协同服务的应用框架、设备交互流程模式,以及设备间交互过程中的请求和响应的消息格式及设备提供服务的描述格式。本标准适用于计算机、DVD设备、家用电器和通信设备等之间在一定范围内通过有线或无线的方式实现资源共享和协同服务。

SJ/T 11310.6-2014信息设备资源共享协同服务 第6部分:服务类型

本标准规定了符合SJ/T 11310-2005的服务类型、接口要求、内容表现以及数据要求等。

本标准适用与计算机、家用电器和通信设备等之间在一定范围内通过有线或无线的方式实现数据流的资源共享和协同服务。


SJ/T 11525-2014数字相框通用规范

本标准规定了数字相框产品的要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。本标准适用于数字相框产品以及具有数码图片显示功能的多媒体终端设备(以下简称产品)。

SJ/T 11340-2014前投影机通用规范

本标准规定了前投影机的功能和性能、测试方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。

本标准适用于液晶(LCD)、硅基液晶(LCoS)、数字光学处理(DLP)投影方式的前投影机,为产品设计、生产定型、检验的主要依据,其他投影方式、不同场合使用的前投影机可参照使用。

SJ/T 11524-2014数字调音台通用规范

本标准规定了数字调音台通用的技术要求、检验方法、检验规则及标志、包装、运输、储存等。

本标准适用于数字调音台,模拟调音台可参考使用。

SJ/T 11523-2014线阵列扬声器系统用音箱性能测试方法

本标准规定了线阵列扬声器系统用音箱的相关性能的测试方法。

SJ/T 11522-2014影院扬声器系统主要性能测试方法

本标准规定影院扬声器系统的相关性能的测试方法。

SJ/T 11521.3-2014数字电视接收设备交互式平台 第3部分:系统测试规范

本标准规定了一个面向三网融合应用,支持多标准兼容、多协议融合和多业务集成的数字电视交互式软件系统架构的测试规范。本标准适用于数字电视交互式平台产品设计及研发,适用于基于该平台的交互式窗件应用开发。

SJ/T 11521.2-2014数字电视接收设备交互式平台 第2部分:应用编程接口

本标准规定了数字电视交互式软件平台的应用编程接口。本标准适用于数字电视接收设备交互式平台产品设计及研发,适用于基于该平台的交互式窗件应用开发。

SJ/T 11521.1-2014数字电视接收设备交互式平台 第1部分:系统架构

本标准规定了支持多标准兼容、多协议融合和多业务集成的数字电视接收设备交互式软件平台系统架构。本标准适用于数字电视接收设备交互式平台产品设计及研发,适用于基于该平台的交互式窗件应用开发。

SJ/T 11378.7-2014等离子体显示器件 第7部分:数字电视机用等离子体显示器件可靠性试验方法

本标准规定了数字电视机用等离子体显示器件的可靠性试验的试验类型、可靠性预计、预处理、试验设备、试验环境、试验样品、统计试验方案、试验时间、试验应力、试验前的准备、测试信号、检查、失效判据、失效数的计算、失效分析和试验数据处理。

SJ/T 11378.6.1-2014等离子体显示器件 第6-1部分:数字电视机用彩色等离子体显示器件详细规范

本标准规定了对彩色等离子体显示器件的结构、标志、订货信息、极限值、推荐工作条件、器件性能指标和质量评定程序的详细要求。

SJ/T 11460.6.1-2014液晶显示用背光组件 第6-1部分:测试方法 光学与光电参数

本标准对LCD用背光组件的光学和光电性能等主要技术指标规定了测试方法。适用于各类LCD用背光组件的测试,包括LED、CCFL、EL等背光组件。

SJ/T 11460.6.2-2014液晶显示用背光组件 第6-2部分:测试方法 动态光学与光电参数

本标准规定了液晶显示用背光组件的动态光学与光电性能参数的测量方法。本标准适用于液晶显示用背光组件,包括LED(半导体发光二极管)、CCFL(冷阴极荧光灯管)等背光组件。

SJ/T 11520.8.9-2014同轴通信电缆 第8-9部分:75-250 型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范

本标准规定了75-250型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

SJ/T 11520.8.8-2014同轴通信电缆 第8-8部分:75-141 型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范

本标准规定了75-141型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

SJ/T 11520.8.5-2014同轴通信电缆 第8-5部分:50-250 型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范

本标准规定了50-250型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

SJ/T 11520.8.4-2014同轴通信电缆 第8-4部分:50-141 型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范

本标准规定了50-141型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

SJ/T 11520.8.3-2014同轴通信电缆 第8-3部分:50-086型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范

本标准规定了50-086型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

SJ/T 11520.8.2-2014同轴通信电缆 第8-2部分:50-047型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔电缆详细规范

本标准规定了50-047型聚四氟乙烯(PTFE)绝缘半柔同轴通信电缆的产品规格、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输和贮存。

SJ/T 11519-2014电子连接用镀锡铜线规范

本标准规定了电子连接用镀锡铜线的牌号、标记、要求、试验方法、检验规则、包装、标志、运输、贮存。

SJ/T 11518-2014表面贴装技术印刷模板

本标准规定了表面贴装技术(SMT)印刷模板的术语和定义、产品标记、原材料、要求、检测方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存等。

SJ/T 10465-2014电容器用金属化聚酯薄膜

本标准对电容器用金属化聚酯薄膜的术语和定义、分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存要求作出了具体规定。

SJ/T 10464-2014电容器用金属化聚丙烯薄膜

本标准对电容器用金属化聚丙烯薄膜的术语和定义、分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存要求作出了具体规定。

SJ/T 11517-2014电子工业用气体 一氧化碳

本标准规定了一氧化碳的技术要求,试验方法以及包装、标志、贮运及安全。本标准适用于甲酸脱水、甲酸甲酯选择分解、木炭还原二氧化碳、甲醇裂解或使用天然气、轻油、重质液态烃、焦炭、煤等含碳物质为原料经过氧化、蒸汽转化或二氧化碳还原等不同工艺过程获得并经精制得到的一氧化碳产品。它在多晶态钻石膜生产中,为化学气相沉积(CVD)工艺过程提供碳源。

SJ/T 11516-2014薄膜晶体管(TFT)用掩模版规范

主要技术内容包括:1、产品分类;2、技术要求:包括环境要求、材料要求、外观尺寸要求、图形尺寸要求、外观要求、缺陷要求;3、试验方法;4、检验规则;5、标志、包装、运输和储存。

SJ/T 11515-2014等离子显示器用无铅玻璃粉

本标准规定了等离子显示器前介质、后介质、上障壁、下障壁封接用无铅玻璃粉的化学组成、粒度分布、平均粒径、转变点温度、曲折点温度、热膨胀系数、含水率、异物、流动柱直径的技术指标及其测试方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存等。

SJ/T 11514-2014印制电路用热固型导体浆料

本标准主要规定了印制电路用热固型导体浆料的术语及定义、要求、试验方法、检验规则和包装、标志、运输和储存。

SJ/T 11513-2014太阳电池用铝浆

标准对太阳电池用铝浆的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输和储存等要求作出了具体规定。

SJ/T 11512-2014集成电路用 电子浆料性能试验方法

集成电路用 电子浆料粘度试验方法

集成电路用 电子浆料固体含量试验方法

集成电路用 电子浆料烧结膜厚度试验方法

集成电路用 电子浆料方阻试验方法

集成电路用 电子浆料细度试验方法

集成电路用 导体浆料附着力试验方法

集成电路用 导体浆料抗焊料侵蚀试验方法

集成电路用 导体浆料焊料浸润性试验方法

集成电路用 电阻浆料温度系数试验方法

集成电路用 电阻浆料恒温放置试验方法

集成电路用 电阻浆料功率负荷试验方法

集成电路用 电阻浆料静电放电试验方法

集成电路用 电阻浆料稳态湿热试验方法

集成电路用 介质浆料介质损耗试验方法

集成电路用 介质浆料电容试验方法

集成电路用 介质浆料击穿电压试验方法

集成电路用 介质浆料绝缘电阻试验方法

SJ/T 11511-2014液晶显示器用 正胶显影液

本标准规定了液晶显示器用 正胶显影液的技术指标和检测方法。

SJ/T 11510-2014液晶显示器用 铝腐蚀液

本标准规定了液晶显示器用 铝腐蚀液的技术指标和检测方法。

SJ/T 11509-2014液晶显示器用 ITO腐蚀液

本标准规定了液晶显示器用 ITO腐蚀液的技术指标和检测方法。

SJ/T 11508-2014集成电路用 正胶显影液

本标准规定了集成电路用 正胶显影液的技术指标和检测方法。

SJ/T 11507-2014集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液

本标准规定了集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液的技术指标和检测方法。

SJ/T 11506-2014集成电路用 铝腐蚀液

本标准规定了集成电路用 铝腐蚀液的技术指标和检测方法。

SJ/T 11505-2014蓝宝石单晶抛光片规范

本标准规定了衬底和红外探测器窗口用蓝宝石单晶抛光片的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装运输和贮存等内容。

SJ/T 11504-2014碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法

本标准规定了碳化硅单晶抛光片表面质量的目视检验方法,观察样品表面的六方孔洞、划痕、凹坑、颗粒、沾污、亮点缺陷、裂纹、崩边的数量并用钢板尺测量划痕的总长度等。

SJ/T 11503-2014碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的测试方法

本标准规定了用表面轮廓仪和原子力显微镜测定碳化硅单晶抛光片表面粗糙度的方法。

SJ/T 11502-2014碳化硅单晶抛光片规范

本标准规定了碳化硅单晶抛光片的术语和定义、技术要求、试验方法、检验规则以及包装、标志、贮存和运输等内容。

SJ/T 11501-2014碳化硅单晶晶型的测试方法

本标准规定了利用拉曼光谱测定碳化硅单晶的结晶类型的方法。

SJ/T 11500-2014碳化硅单晶晶向的测试方法

本标准规定了利用X射线衍射定向法测定6H、4H等晶型碳化硅单晶晶向的方法。

SJ/T 11499-2014碳化硅单晶电学性能的测试方法

本标准规定了利用范德堡法测试6H、4H等晶型碳化硅单晶的导电类型、电阻率、迁移率、载流子浓度的方法。

SJ/T 11498-2014重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法

本标准规定了用二次离子质谱法(SIMS)对重掺硅衬底单晶体中氧浓度总量的测试方法。

SJ/T 11497-2014砷化镓晶片热稳定性的试验方法

本标准规定了半绝缘砷化镓(GaAs)热稳定性的试验方法。

SJ/T 11496-2014红外吸收法测量砷化镓中硼含量

本标准规定了在77K时,用红外吸收法来测定砷化镓(GaAs)中替位硼含量的方法。

SJ/T 11495-2014硅中间隙氧的转换因子指南

本标准规定了硅中间隙氧的转换因子指南

SJ/T 11494-2014硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法

本标准规定了硅单晶中硼、磷杂质的光致发光测试方法。

SJ/T 11493-2014硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法

本标准规定了用二次离子质谱法(SIMS)对硅衬底单晶体材料中氮总浓度的测试方法。

SJ/T 11492-2014光致发光法测定磷镓砷晶片的组分

本标准规定了采用光致发光测试系统对表面经过处理的磷镓砷(GaAs1-xPx)晶片组分进行测试的方法。

SJ/T 11491-2014短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量

本标准规定了用短基线红外光谱法测定硅中间隙氧含量。

SJ/T 11490-2014低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法

本标准规定了低位错密度砷化镓(GaAs)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。

SJ/T 11489-2014低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法

本标准规定了低位错密度磷化铟(InP)抛光片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。

SJ/T 11488-2014半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法

本标准规定了半绝缘砷化镓单晶电阻率、霍尔系数和霍尔迁移率的测量方法。

SJ/T 11487-2014半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法

本标准规定了半绝缘半导体晶片电阻率的非接触式测量方法。

SJ/T 2216-2014硅光电二极管技术规范

本标准规定了硅光电二极管的光电特性和机械特性以及环境特性的技术要求、检验方法和检验规则等。

SJ/T 2215-2014半导体光电耦合器测试方法

标准的主要内容包括光电耦合器正向压降二极管)、正向电流(二极管)、反向电流(二极管)、反向击穿电压(二极管)等25个参数的术语和定义、测试原理、测试步骤、测试条件。

SJ/T 2214-2014半导体光电二极管和光电晶体管测试方法

标准的主要内容包括半导体光敏管的正向压降暗电流等参数的术语和定义测试原理测试步骤测试条件。

SJ/T 11486-2014小功率LED芯片技术规范

本标准规定了小功率半导体发光二极管芯片(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则和标志、包装、运输和储存。本标准适用于可见光芯片,紫外发射二极管芯片和红外发射二极管芯片可参照执行。

SJ/T 2354-2014PIN、雪崩光电二极管测试方法

标准的主要内容包括PIN雪崩光电二极管的反向击穿电压暗电流等参数的术语和定义测试原理测试步骤测试条件。

SJ/T 11485-2014LED型号命名规则

该标准是半导体发光二极管系列产品的基础标准之一,为新制定的标准,主要内容是规范LED 产品型号命名,分单色光LED 和白光LED两类分别进行型号命名,定义了型号命名规则中各部分的符号、定义、范围等。

SJ/T 11484-2014掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃

本标准规定了掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃的术语、定义、材料、技术要求、试验方法、检验规则、包装、标志、贮存和运输。

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